и.о.Заведующего кафедрой:Твардовский Александр Сергеевич, доцент, к.ф.-м..н., доцент
Ауд. 2-211Твардовский Александр Сергеевич, 1992 года рождения. В 2011 году поступил в Томский государственный университет (ТГУ) на Радиофизический факультет по направлению «Радиофизика». Получил диплом Бакалавра и Магистра с отличием по указанному направлению 2015 и 2017 годах соответственно. В 2017 поступил в аспирантуру ТГУ по направлению «Информатика и вычислительная техника», а в 2020 защитил кандидатскую диссертацию по специальности 05.13.01 «Системный анализ, управление и обработка информации». Преподаёт в Институте прикладной математики и компьютерных наук ТГУ с 2019, с 2022 года в должности доцента. В 2024 году был назначен и.о. заведующего кафедрой Компьютерной безопасности.
.
Профессорско-преподавательский состав кафедры Компьютерной безопасности
673 ОД Присоединение кафедры ИПМКН.pdf
Контактные данные сотрудников кафедры компьютерной безопасности
.
НАПРАВЛЕНИЕ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ КАФЕДРЫ
- Аппаратная безопасность
- Разработка безопасного программного обеспечения
- Конечно-автоматные методы анализа и синтеза
.
Ссылка на канал кафедры:
https://t.me/+6O3GtjDdCLs4ZjQy
.
ПРОЕКТЫ:
01.01.2015 — 31.12.2016
Разработка статистических, вероятностных и логических методов для синтеза и анализа сложных систем
Государственная поддержка ведущих университетов Российской Федерации в целях повышения их конкурентной способности среди ведущих мировых научно-образовательных центров (5-100)
20.06.2014 — 31.12.2018
Тестирование и контролепригодное проектирование логических схем высокой производительности
ОСНОВНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ:
- Matrosova A.Y., Andreeva V.V., Chernyshov S.V., Rozhkova S.V., Kudin D.V. Finding false paths in sequential circuits //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 10. P. 1837-1844.
- Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65.
- Ahlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331.
- Matrosova A.Yu., Andreeva V.V., Nikolaeva E.A. Finding Test Pairs for pdfs in Logic Circuits Based on Using Operations on robdds //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 61, № 5. P. 994-999.
- Ostanin S., Andreeva V., Butorina N., Tretyakov D. Fault-tolerant Synchronous FSM Network Design for Path Delay Faults //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2018), Kazan, 14-17 september 2018. [S. L.], 2018. P. 645-648.
- Matrosova A., Ostanin S., Kirienko I., Nikolaeva E. A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for safs and pdfs Soft Errors //2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Sant Feliu de Guixols, Spain, 2016. P.
- Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits //2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 213-214.
- Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Preventing and masking Trojan circuits triggering out of working area //2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), 4-6 september, 2017, Catania. Catania: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-4.
- Matrosova A., Ostanin S., Andreeva V. Patching circuit design based on reserved clbs //Proceedings of 2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Romania: IEEE Computer Society, 2016. P. 49-54.
- Жуковская А.О., Тренькаев В.Н. Метод идентификации обратимого автомата с известной функцией выходов //Прикладная дискретная математика. Приложение. 2017. № 10. С. 140-142.
- N. G. Parvatov, “On the period length of vector sequences generated by polynomials modulo prime powers”, ПДМ, 2016, 1(31), 57–61
- Н.Г. Парватов, Обобщённый алгоритм Берлекэмпа-Месси, трудых Международной конференции «Дискретные модели в теории управляющих систем» – Москва: МАКС Пресс, 2018. С. 211-213.
- Golubeva O. Detection of hard-to-detect stuck-at faults and generation of their tests based on testability functions // 2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Cluj-Napoca, Romania. 24−26 May 2018.
- Голубева О.И. Интервальные расширения булевых функций и троичное моделирование последовательностных схем // Таврический научный обозреватель. – 2017. – №5 (22). – с. 208 – 220.
- Matrosova A.Y., Andreeva V.V., Chernyshov S.V., Rozhkova S.V., Kudin D.V. Finding false paths in sequential circuits //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 10. P. 1837-1844.
- Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65. hlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331. atrosova A.Yu., Andreeva V.V., Nikolaeva E.A. Finding Test Pairs for pdfs in Logic Circuits Based on Using Operations on robdds //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 61, № 5. P. 994-999.
- Ostanin S., Andreeva V., Butorina N., Tretyakov D. Fault-tolerant Synchronous FSM Network Design for Path Delay Faults //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2018), Kazan, 14-17 september 2018. [S. L.], 2018. P. 645-648.
- Мatrosova A., Ostanin S., Kirienko I., Nikolaeva E. A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for safs and pdfs Soft Errors //2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Sant Feliu de Guixols, Spain, 2016. P.
- Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits //2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 213-214.
- Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Preventing and masking Trojan circuits triggering out of working area //2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), 4-6 september, 2017, Catania. Catania: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-4.
- Matrosova A., Ostanin S., Andreeva V. Patching circuit design based on reserved clbs //Proceedings of 2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Romania: IEEE Computer Society, 2016. P. 49-54.
- Жуковская А.О., Тренькаев В.Н. Метод идентификации обратимого автомата с известной функцией выходов //Прикладная дискретная математика. Приложение. 2017. № 10. С. 140-142.
- Golubeva O. Detection of hard-to-detect stuck-at faults and generation of their tests based on testability functions // 2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Cluj-Napoca, Romania. 24−26 May 2018.
- Голубева О.И. Интервальные расширения булевых функций и троичное моделирование последовательностных схем // Таврический научный обозреватель. – 2017. – №5 (22). – с. 208 – 220.
- Тренькаев В.Н. Перестраиваемые автоматы на подстановках //Прикладная дискретная математика. Приложение. 2019. № 12. С. 192-193
- Яковлев Г.А., Тренькаев В.Н. Платформа SecureDBMS для разработки защищенной облачной СУБД // Материалы X-й Международной молодёжной научной конференции «Математическое и программное обеспечение информационных, технических и экономических систем», Томск, 26-29 мая 2023 г. Томск: Изд-во Том. гос. ун-та, 2023. С. 74‒81.
- Matrosova A.Yu., Provkin V.A., Tychinskiy V.Z., Nikolaeva E.A., Goshin G.G. Masking Circuit Faults and Trojan Circuit Injections Using Sat Solvers // Russ. Phys. J. 2021. Vol. 63, № 12. P. 2178-2188
- Tvardovskii A., Yevtushenko N. Deriving homing sequences for Finite State Machines with timeouts // The Computer Journal. 2022. P. 1‒10. DOI: 10.1093/comjnl/bxac069
- Tvardovskii A., Yevtushenko N., El-Fakih K. Testing and incremental conformance testing of timed state machines // Science of Computer Programming, Volume 233. 2024. DOI:10.1016/j.scico.2023.103053.